ATM-4030VL 全自動(dòng)高精度二次元影像測(cè)量?jī)x詳細(xì)介紹

ATM系列性能高全自動(dòng)影像測(cè)量?jī)x/ AF 全自動(dòng)對(duì)焦功能/ AZ 全自動(dòng)變倍遠(yuǎn)心鏡頭。 采用130萬(wàn)工業(yè)相機(jī)為基礎(chǔ)，提升影像對(duì)比度的測(cè)量專用DSP后處理攝影機(jī)，標(biāo)配本公司自行研發(fā)的AZ全自動(dòng)變倍遠(yuǎn)心鏡頭。組合成一套性能高的專業(yè)影像測(cè)量系統(tǒng)。 采用00級(jí)花崗巖結(jié)構(gòu)作為機(jī)身的支架，配合精度高的工作臺(tái)，確保機(jī)架穩(wěn)定可靠，X/Y/Z三軸均裝有分辨率以0.01um精度高的絕對(duì)式光柵尺測(cè)量系統(tǒng)。 公司擁有光學(xué)、軟件、電子、圖像處理、精密機(jī)械、自動(dòng)化控制等專業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊(duì)，專注于光機(jī)電數(shù)字精密儀器測(cè)量檢測(cè)領(lǐng)域的技術(shù)研發(fā)及生產(chǎn)，廣泛應(yīng)用于工業(yè)視覺(jué)2D、3D復(fù)雜尺寸的測(cè)量和產(chǎn)品缺陷的檢測(cè)。自主研發(fā) 工業(yè)視覺(jué)檢測(cè)系統(tǒng)、數(shù)控和機(jī)器人控制系統(tǒng)、工業(yè)機(jī)器人工作站等軟硬件產(chǎn)品。

一、技術(shù)參數(shù)

二、環(huán)境條件及要求

三、軟件特點(diǎn)

RationalVue是由美國(guó)計(jì)量軟件公司研發(fā)團(tuán)隊(duì)24年專業(yè)計(jì)量軟件的成功開(kāi)發(fā)經(jīng)驗(yàn)、繼承了CAD無(wú)縫鏈接、100%圖形化顯示、快速拖拽式操作、實(shí)時(shí)數(shù)模比對(duì)、圖形報(bào)告多樣化。
一套美國(guó)RationalVue = 二維檢測(cè)比對(duì)軟件 + CAD逆向軟件 + Form分析軟件 + 輪廓掃描軟件 + SPC統(tǒng)計(jì)分析軟件 + 形位公差評(píng)價(jià)， 美國(guó)RationalVue絕大部分功能實(shí)現(xiàn)只需要鼠標(biāo)的1-2次拖拽可完成。操作快捷、提高效率，拖放式操作：“鼠標(biāo)點(diǎn)擊” + “鼠標(biāo)拖拽” = 強(qiáng)大功能的實(shí)現(xiàn)

功能：
1．可以運(yùn)行程序的過(guò)程中暫停執(zhí)行程序，并對(duì)某元素修改后，繼續(xù)向下測(cè)量。
2．大半徑小圓弧的精準(zhǔn)測(cè)量
3．快速精準(zhǔn)的影像對(duì)焦功能    
4．自動(dòng)巡邊測(cè)量功能        
5．批量設(shè)置元素的公差帶及名義值    
6．可建立多重工件座標(biāo)系。并可以建立多重Z軸座標(biāo)系。
7．修改編輯及查看尋邊狀況                           
8．可以修改元素名稱及尺寸名稱，以與客戶圖紙一致。
9．功能強(qiáng)大的自定義報(bào)表功能
10．符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)的形位公差計(jì)算能力
11．基于CAD，快速比對(duì)，可導(dǎo)入DXF格式的CAD文件CAD直接用于指導(dǎo)測(cè)量，并完成實(shí)際與理論的比對(duì)功能。使得測(cè)量效率提高了2-3倍?？赏瓿晌恢枚取⑶€輪廓度、曲面輪廓度等ISO形位公差的測(cè)量。
12．最完整的幾何測(cè)量功能
13．工件拼圖&導(dǎo)航功能
14．特殊邊緣測(cè)量功能
15．毛刺過(guò)濾功能
16．強(qiáng)邊緣功能功能
17．對(duì)焦測(cè)量高度、平面度功能
18．強(qiáng)大的弱邊測(cè)量&曲線輪廓掃描功能
19．美國(guó)RtionalVue具有專業(yè)的針對(duì)網(wǎng)板的測(cè)量工具，可輕松的實(shí)現(xiàn)網(wǎng)板直線的測(cè)量。
20．最完整的形位公差計(jì)算（包括：二維和三維、形狀公差、位置公差、形位公差）。
21．完整的圖形構(gòu)造功能
22．SPC統(tǒng)計(jì)功能
23．逆向工程功能
24．特殊邊緣處理顏色過(guò)濾、灰度過(guò)濾功能
25．修改編輯及查看尋邊狀況：軟件可以修改編輯任何測(cè)量元素的尋邊范圍，光源亮度,倍率等。還可以查看之前測(cè)量的